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红外干涉测量设备FSM 413
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晶圆厚度测量系统 FSM 413 EC
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梅特勒托利多 电极INLAB 413/IP67 ELECTRODE
电极由于采用固体 XEROLYT® 参比电解质,无需玻璃膜液络部,避免电极堵塞物料号: 52000379规格 - 电极INLAB 413/IP67 ELECTRODE测量范围pH 0–14温度范围0
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红外干涉测量设备FSM 413
TSV 深度、侧壁角度...红外干涉测量设备适用于可让红外线通过的材料硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石 英、聚合物…………衬底厚度(不受图案硅片、有胶带、凹凸或者粘合硅片影响)平整度厚度
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白光干涉三维形貌测量系统
SuperViewW白光干涉三维形貌测量系统集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。
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皮米级绝对距离测量干涉仪
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Nikon 干涉测量镜头
Nikon 干涉测量镜头1)适合非接触光学压型2)可选Michelson 和 Mirau 镜头3)200mm镜筒远场校正设计干涉测量镜头可用在非接触光学压型测量设备上,通过此镜头可得到表面位图和表面
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徕卡显微镜 白光共焦干涉/光学表面测量系统
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WIVS-Ⅲ型白光干涉三维轮廓测量仪
(7)微光学元件测量 二、仪器构成 (1)宽带光干涉显微镜 (2)垂直位移扫描工作台 (3)摄像及图像处理系统 (4)工控机 三、测量原理 (1)相移扫描干涉(PSI) (2
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OCT 级干涉模组IFM
IFM100 及IMF200 是Mach-Zehnder 型干涉仪模组,通常为每个客户的OCT 系统配置而订制,可将PS-OCT 包括在内。IFM-100/200可包含诸如可见指引光、电控
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